兆易创新“延时测试电路和探针结构”专利获授权

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兆易创新获得“延时测试电路和探针结构”专利

兆易创新科技集团股份有限公司近日获得一项名为“延时测试电路和探针结构”的实用新型专利授权（授权公告号：CN222167160U，授权公告日：2024年12月13日，申请日：2024年3月5日）。

该专利技术属于半导体领域，提供了一种新型的延时测试电路和探针结构。该电路包含两个并联的测试支路，分别接收相同的激励信号并输出各自的振荡信号。一个相位检测器用于检测这两个输出信号之间的相位差，从而实现对两个测试支路输出交流信号的相位和频率差异的精确检测。 这项技术创新将有助于提高半导体测试的精度和效率。

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